IM7580阻抗分析儀大幅提高了生產效率
IM7580阻抗分析儀能在阻抗范圍和寬頻率范圍進行測量，它利用物體具有不同的導電作用，在物體表面加一固定的低電平電流時，通過阻抗計算出物體的各種器件、設備參數和性能優劣。
在信息化發展的現在，智能手機等移動設備能夠適用于LTE、Wi-Fi、GPS等，而高頻化的發展也讓其帶寬達到數GHz，同時，移動設備中所使用的高頻感應器或鐵氧體磁珠之類的電子元件也趨于高頻化。這些電子元件需要按照從數百MHz到數GHz的高頻來進行特性評估，所以高頻的測量儀器的需求也隨之增加。
IM7580阻抗分析儀的測量頻率是1MHｚ～3GHz，在改變頻率的同時進行測量的分析儀的模式下寬頻帶的話則可以進行偏差較小的穩定的阻抗評估，因此能夠從電子元件的開發到生產線上等各種領域內使用。因此，對于希望能夠快速檢查大量電子元件的生產廠家來說，大幅提高了生產效率。
IM7580阻抗分析儀電子元件生產廠家的生產線中，可以實現為了提高空間效率的檢查系統的小型化，以及通過同時安裝多臺來縮短檢查時間，從而降低生產成本。而且，這類測量儀器非常的輕巧方便攜帶，能夠在研發、品保、生產線等多種場合同時使用，放在桌上也不會占太多空間。
單一頻率測量的LCR測試儀模式下，有判斷電子元件合格與否的比較器功能、挑選電子元件的功能，比較器功能是設置上下限值，并以其為判斷標準進行合格與否的判斷。相對于以1個判斷標準判斷合格與否的比較器功能，IM7580阻抗分析儀功能多可以設置10種判斷標準，并進行排序。
多種頻率測量的分析模式下，有從電子元件的頻率特性中能判斷合格與否的區域判定、峰值判定。區域判定是確認測量值是否進入任意設置的判定區域內的功能。峰值判定是判定共振點的功能。另外，還具有任意設置多種頻率，并以此設定值為基礎判斷合格與否的點判斷功能。
更新時間：2019-05-08 
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